布氏/努氏/洛氏/維氏硬度計(jì)QNESS 250 / 750 / 3000 M EVO
測(cè)試方法: 洛氏, 維氏, 努氏, 布氏
控制:固定試臺(tái),帶手動(dòng)高度調(diào)節(jié)
布氏/努氏/洛氏/維氏硬度計(jì)QNESS 250 / 750 / 3000 M EVO
“M”版本固定工件支撐和超大測(cè)試臺(tái)區(qū)域使得甚至對(duì)最大的工件也可以進(jìn)行硬度測(cè)試。測(cè)試頭通過(guò)旋轉(zhuǎn)位于機(jī)器前部的手輪來(lái)進(jìn)行手動(dòng)移動(dòng)。測(cè)試頭的軸承部分是為順暢運(yùn)轉(zhuǎn)而特別設(shè)計(jì)的,用最小的力就可以進(jìn)行操作。最大測(cè)試高度是510 mm。
獨(dú)特的儀器特點(diǎn)
可旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)
獨(dú)特的便利性操作,適用于大型,形狀笨重和成型部件和工件。 M和E型選件的工作臺(tái)可以傾斜至5°(包括內(nèi)置夾具),無(wú)需額外的工件裝夾!
旋轉(zhuǎn)型壓頭保護(hù)罩
對(duì)于無(wú)法使用壓頭保護(hù)罩夾持的樣品,無(wú)需耗費(fèi)時(shí)間來(lái)更換/拆卸保護(hù)罩。只需要手動(dòng)或者電動(dòng)控制來(lái)將保護(hù)罩升起或者放下。此外,這里還能十分簡(jiǎn)單的更換成客戶需要壓頭保護(hù)附件。
擴(kuò)展測(cè)試高度
如果510mm的測(cè)試空間高度對(duì)于特別大型的或者難于夾持的樣品仍不足夠,可以聯(lián)系 QATM來(lái)提供更大的機(jī)架。堅(jiān)固的鋼結(jié)構(gòu)機(jī)架可以按客戶定制尺寸生產(chǎn)。
布氏/努氏/洛氏/維氏硬度計(jì) M EVO在極短的時(shí)間內(nèi)獲得高度精確的結(jié)果
優(yōu)異的成像質(zhì)量
光學(xué)系統(tǒng)已完全重新開(kāi)發(fā)。它在QATM的無(wú)塵車間內(nèi)建造并受益于公司全面的專業(yè)知識(shí)。所有新的產(chǎn)品系列都共享同一個(gè)通用顯微鏡系統(tǒng),在可視范圍0.1mm至8mm之間,都能提供最大的清晰度以及對(duì)比度。新的QATM照明系統(tǒng)可以確保整個(gè)圖片的照明均勻,而且無(wú)論選用哪個(gè)的放大倍數(shù)都沒(méi)有暗邊。
縮短的周期時(shí)間
新的EVO產(chǎn)品系列擁有更優(yōu)的測(cè)試參數(shù)、更快的Windows 10 系統(tǒng)、更短的序列自動(dòng)對(duì)焦時(shí)間、更快的亮度調(diào)節(jié)與圖像分析、甚至更少的操作噪音——所有這些都有助于在日常硬度測(cè)試中更快地完成測(cè)試循環(huán)。
XLED布氏測(cè)量物鏡
XLED照明模塊徹底革新了布氏壓痕的分析。由于市售物鏡有限,軟材料的布氏壓痕尤其容易受到不精確測(cè)量結(jié)果的影響。相比之下,由于直接和廣泛的照明,XLED鏡頭可確保材料的精確和可重復(fù)測(cè)量,無(wú)論其類型與硬度如何。
布氏/努氏/洛氏/維氏硬度計(jì) M EVO工業(yè)應(yīng)用的無(wú)限適用性
以太網(wǎng)工業(yè)攝像頭
具有以太網(wǎng)數(shù)據(jù)傳輸功能的高品質(zhì)CMOS 500萬(wàn)像素?cái)z像頭定義了當(dāng)前的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。與其他相機(jī)系統(tǒng)不同,在此可以實(shí)現(xiàn)更高的傳輸穩(wěn)定性。此外,電腦和硬度測(cè)試設(shè)備可以遠(yuǎn)距離進(jìn)行遠(yuǎn)程設(shè)置。在控制基礎(chǔ)設(shè)施安裝在外部開(kāi)關(guān)柜里的制造環(huán)境中,這一切是理想的。
可自由調(diào)節(jié)的操作顯示器
12英寸超平電容式觸摸顯示屏可通過(guò)球形和插座式接頭平穩(wěn)地升降和傾斜,符合人體工程學(xué)的優(yōu)化使用。
優(yōu)化的測(cè)試頭設(shè)計(jì)
多種多樣的夾具和裝配工具選擇,能夠滿足各類樣品對(duì)輔助裝夾的需求。 可選的透明防撞裝置在預(yù)防設(shè)備上測(cè)試區(qū)域不受來(lái)自外部破壞的同時(shí),還能確保用戶可以不受限制地去觀察測(cè)試空間。
用于硬度計(jì)的QPIX軟件高效操作的新層面
多點(diǎn)觸摸容量 & 全屏模式
現(xiàn)代的多點(diǎn)觸控操作適于簡(jiǎn)單的縮放和便捷的菜單導(dǎo)航。
在一個(gè)屏幕上清楚地概覽所有最重要的功能確保用戶友好,而且最重要的是,保證測(cè)試結(jié)果清楚地按重要性排列。
數(shù)據(jù)管理
多種統(tǒng)計(jì)功能:條形圖,折線圖,柱狀圖
將測(cè)試結(jié)果導(dǎo)出為XML或CSV文件
每個(gè)壓痕的詳細(xì)信息
測(cè)試報(bào)告可以以Excel,Word,PDF導(dǎo)出或直接打印
可以對(duì)序列操作自動(dòng)導(dǎo)出和刪除
QPIX T2軟件
操作簡(jiǎn)便
通過(guò)環(huán)形光源進(jìn)行明場(chǎng)或暗場(chǎng)下的全自動(dòng)圖像分析
快速自動(dòng)聚焦
手動(dòng)重新測(cè)量
靈活配置,客戶指定,經(jīng)濟(jì)實(shí)惠滿足您的測(cè)試需求
我們?yōu)槟臏y(cè)試需求提供最佳解決方案-從工件夾持固定,擴(kuò)展測(cè)試區(qū)域,以及從自動(dòng)化到軟件適應(yīng)性。
工件夾持固定
手動(dòng)XY載物臺(tái)
擴(kuò)展的測(cè)試區(qū)域
暗場(chǎng)照明(可選)
適用于軟材料的環(huán)形光源(可選)
支持的測(cè)試方法 |
布氏,維氏,洛氏,努氏,塑料測(cè)試 |
測(cè)試力范圍 |
Qness 250 M EVO: 1 - 250 kg (9.81 - 2450 N) |
高度調(diào)節(jié) |
手動(dòng)/手輪 |
測(cè)試高度/喉深 |
510 mm / 320 mm |
測(cè)砧 |
584 x 450 mm |
最大允許工件重量 |
無(wú)限制 |
主機(jī)重量 |
490 kg |
測(cè)試序列 |
全自動(dòng)/電子力控制 |
相機(jī)系統(tǒng)/圖像傳輸 |
5百萬(wàn)像素 Ethernet 工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)/可達(dá)270FPS |
轉(zhuǎn)塔 |
2位 (標(biāo)準(zhǔn))或8位 (轉(zhuǎn)塔) |
軟件 |
Qpix T2 (可選: Qpix CONTROL 2 M) |
操作系統(tǒng)/硬盤(pán) |
Windows 10 IoT / 128 GB SSD |
數(shù)據(jù)界面 |
1x USB (前部) 4x USB, 2x RJ45 (Ethernet), 1x Disp... |
物鏡 |
XLED 1, XLED 2, XLED 5, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x |
視場(chǎng)(取決于選擇的工具) |
0.113x 0.084 mm (100x) up to 7.98 x 5.97 mm (XLED 1) |
顯示 |
12“電容觸屏 |
電源供應(yīng) |
230~1/N/PE, 110~1/N/PE |
最大功耗 |
~ 480 W |
附加選項(xiàng) |
設(shè)計(jì)底座,防沖撞保護(hù),交叉激光,測(cè)砧,V型夾具,數(shù)據(jù)連接,二維碼/條形碼閱讀器等。 |
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